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        SEMICON & OPTO半导体设备

        半导体设备

        自动光学检测仪

        Jin Bun自动光学检测

        E-3000

        1. 客制化:满足客户个别需求,量身订做特殊功能

        2. 高解析度:可判别微少不良

        3. 共用性高:搭载变倍镜头,更换晶片规格只需调整倍率,不需更换镜头

        4. 图像存储:可存储存各站正、反面NG及OK最近检测各200笔图像

        5. 图像显示:运行可即时显示各站良品或不良品图像

        6. 自订分类:可自由设定不良名称及吹气分类,方便管理。

        7. SSD硬碟:利用先进电脑硬体,快速开机,减少等待时间

        8. 人性介面:容易操作使用。

        9. 高定位精度:采用超高解析度ENCODER,不误判混料,不洗盘

        10. 生产统计显示:可即时显示各站各项不良统计值。


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